DP-8型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準而的，于測試半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。

產品型號：DP-8

更新時間：2016-10-21

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四探針測試儀四探針檢測儀四探針測定儀/四探針電阻率測定儀型號：DP-8

DP-8型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準而的，于測試半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。
儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結果。
儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數快、度、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結構緊湊、易操作等特點。
本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、等院校對半導體材料的電阻性能測試。

　術　　標：

測量范圍電阻率：10-4～105 Ω.cm（可擴展）；
方塊電阻：10-3～106 Ω/□（可擴展）；
電導率：10-5～104 s/cm；
電阻：10-4～105 Ω；

可測晶片直徑 140mmX150mm（配S-2A型測試臺）；
200mmX200mm（配S-2B型測試臺）；
400mmX500mm（配S-2C型測試臺）；
恒流源電流量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔，各檔電流連續(xù)可調
數字電壓表量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　
分辨力：10μV；
輸入阻抗：>1000MΩ；
度：±0.1% ；
顯示：四位半紅色發(fā)光管數字顯示；性、量程自動顯示；
四探針探頭基本標間距：1±0.01mm；
針間緣電阻：≥1000MΩ；
機械游移率：≤0.3%；
探針：碳化鎢或速鋼Ф0.5mm；
探針壓力：5～16 牛頓（總力）；
四探針探頭應用參數（見探頭附帶的合格證）
模擬電阻測量相對誤差
（按JJG508-87行） 0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字
整機測量zui大相對誤差（用硅標樣片：0.01-180Ω.cm測試）≤±5%
整機測量標準不確定度 ≤5%
計算機通訊接口并口
標準使用環(huán)境溫度：23±2℃；
相對濕度：≤65%；
無頻干擾；
無強光直射；

配置四探針測試儀主機、探針臺、四探針探頭、

其它

商品名稱：遮蓋率測定儀/遮蓋率檢測儀/遮蓋率測試儀
商品型號：DP-2388

遮蓋率測定儀/遮蓋率檢測儀/遮蓋率測試儀 型號：DP-2388

遮蓋率測定儀/遮蓋率檢測儀/遮蓋率測試儀 說明：
      遮蓋率測定儀是我公司在DP-Ⅲ反射率測定儀的基礎上新開發(fā)的微機型產品,其參數附合家標準GB/T13452.3-92、GB9270-88、GB5211.17-88和標準ISO3906-1980（E）。本儀器采用中文菜單,顯示清晰、操作方便,它具有數據測量、數據儲存、數據處理和數據查詢等能。遮蓋率測定儀適用于測定白色漆和淺色漆的遮蓋率, 也可以測定色漆和清漆在固定涂布率下的反射率
遮蓋率測定儀/遮蓋率檢測儀/遮蓋率測試儀 特點:
   1、測量范圍:   0―100
   2、分度值:     0.1
   3、示值誤差:   ±1
   4、重復度:   0.3
   5、環(huán)境溫度:   200C±50C    相對濕度 < 85%
   6、作電源:   220V±10%    50Hz
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北京亞歐德鵬科有限公司

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